gleichen Funktionen wie ein ePass aufweisen und muss von jedem deutschen Bürger ab dem 16. Lebensjahr mitgeführt werden.
Diesbezüglich wäre eine für die deutsche Bevölkerung repräsentative Studie wünschenswert.
Auch wenn die BioPII Studie zu dem Schluss kommt, dass biometrische Merkmale in Reisepässen die Grenzkontrolle wirksam
unterstützen können, empfiehlt sie „eine gründliche
Untersuchung der Funktionstüchtigkeit, der Erkennungsleistung und der
Überwindungssicherheit“ vor dem endgültigen Echtbetrieb [BIOPII 2005 S.170]. Auf eine schriftliche Nachfrage hin erläuterte das
BSI, diese Aussage sei ausdrücklich nicht so zu interpretieren, dass die gründliche Untersuchung vor der Einführung der ePässe zu
erfolgen hat sondern „vor Einführung der biometrischen Systeme an den Grenzkontrollen“. Die Einführung der Biometrischen Systeme
an den Grenzkontrollen erfolgt erst Anfang 2006 und wird bis 2008 dauern (vgl. Kapitel 3.2).
Eine solche Untersuchung seitens der
Bundesregierung ist bisher allerdings nicht erfolgt [BUND 2005].
Die BioPII-Studie sagt weiterhin aus, dass Alterungseffekte auf biometrische Merkmale bisher unzureichend untersucht worden seien.
So sei schwierig abzuschätzen, ob heute aufgenommene biometrische Merkmale in 10 Jahren noch zuverlässig für eine Verifikation
genutzt werden können (S.170). Diese Aussage deckt sich mit der Empfehlung der ICAO. Die ICAO empfiehlt, die Gültigkeit von
biometrischen Reisepässen auf 5 Jahre zu begrenzen, da die Entwicklung in der Biometrie schnell voranschreitet und die
Erkennungsleistung mit alten Merkmalen über die Zeit abnimmt [ICAO 2004d S.47]. Dennoch wird der deutsche ePass im Regelfall 10
Jahre gültig sein [AA 2005a].
Zusammenfassend kann gesagt werden, dass angesichts der Fortschritte der Biometrie in den letzten Jahren kaum Zweifel daran
bestehen können, dass langfristig gute Erkennungsleistungen erzielt werden sollten. Fraglich bleibt aber, wie zuverlässig die
Biometrischen Systeme bei der Einführung des ePasses am 1. November 2005 funktionieren werden. Ebenso fraglich bleibt, ob die
biometrischen Merkmale robust genug gegen Alterungseffekte sein werden, so dass auch in einigen Jahren eine reibungslose
Funktionalität der ePässe gewährleistet ist.
5.2.3 Haltbarkeit des ePass
In der Praxis ist der ePass vier Hauptbelastungen ausgesetzt. Dem Stempeln, dem Knicken bzw. Biegen, Schmutz und normalen
Alterungsprozessen des RF-Chips. Der bisherige Reisepass gilt als sehr robust [BSI 2004b, S.91]. Leider existieren keine uns
bekannten Studien, die sich explizit mit der Haltbarkeit von RF-Chips in Ausweisdokumenten beschäftigen, so dass sich Experten
derzeit uneins sind, ob der ePass zehn Jahre lang den Belastungen standhalten wird [BSI 2004, S.73].
Stempeln sollte sich in der Praxis kaum als Problem erweisen. Die ICAO macht sehr flexible Vorschläge, wo der RF-Chip in den ePass
implementiert werden kann [ICAO 2004d S.41]. Bilder der Bundesdruckerei lassen vermuten, dass das Inlay mit RF-Chip und Antenne
entweder im äußeren Umschlag des ePasses oder in der Datenseite implementiert wird. Ist das Inlay in dem oberen ePass-Umschlag
implementiert, wird durch das Stempeln kein Druck auf den Chip oder die Antenne ausgeübt, der schädlich sein könnte. Befindet sich
das Inlay in der Datenseite, wäre dies theoretisch möglich. Es scheint wahrscheinlich, dass bei begründetem Zweifel an der Robustheit
des Chips und der Antenne bzgl. des Stempelns, das Inlay in den oberen Umschlag eingebettet wird.
Allgemein gilt, dass RF-Chips – je nach Bauart – durch Knicken beschädigt werden können
[BSI 2004, S.45]. Auch Dipl.-Ing. Jan
Krissler vom Fraunhofer Institut Berlin meint
auf den ePass bezogen „Häufiges Knicken […] der Verbindung zwischen Chip und
Antenne garantiert schaden“ wird [KRISSLER 2005]. Die ICAO hält das Biegen und Knicken des ePasses ebenfalls für eine
realistische Gefährdung und empfiehlt, den ePass an den kritischen Stellen mit einem steifen nicht-metallischen Material zu verstärken
[ICAO 2004b S.21]. Die Vermutung liegt nahe, dass Bundesregierung und Bundesdruckerei dieser Empfehlung nachkommen und die
Haltbarkeit des ePasses auch langfristig als gewährleistet betrachten. Diesbezügliche Anfragen per Email an die Bundesdruckerei, das
Innenministerium und das BSI brachten jedoch keine Antworten hervor.
Da RF-Chips als resistent gegen Schmutz gelten [BSI 2004a], ist davon auszugehen, dass dieser Faktor keinen störenden Einfluss
haben wird.
Inwieweit normale Alterungsprozesse die Funktionsfähigkeit des RF-Chips innerhalb von 10 Jahren beeinträchtigen, ist unklar. Auf
RF-Chips lassen sich nicht unbegrenzt lange Daten speichern. Die ICAO spricht von einer normalen Haltbarkeitserwartung von 2 bis 3
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